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       X射線衍射儀是一種什么樣的儀器，和X射線熒光光譜分析儀有什么不同？

       X射線衍射儀是一種利用X射線在晶體物質(zhì)中的衍射效應(yīng)進(jìn)行物質(zhì)結(jié)構(gòu)分析的技術(shù)。采用了理學(xué)的CBO交叉光學(xué)系統(tǒng)，一臺儀器可以進(jìn)行從普通粉末樣品到包括In-Plane在內(nèi)的薄膜樣品測試。采用組合式結(jié)構(gòu)，通過對各個單元的不同組合，可以進(jìn)行各種測試。這種儀器可分析粉末樣品、塊狀樣品、薄膜樣品、微區(qū)微量樣品在內(nèi)的多種材料，包括了金屬材料、無機(jī)材料、復(fù)合材料、有機(jī)材料、納米材料、超導(dǎo)材料。應(yīng)用范圍廣泛。

樣品檢測

       這種檢測儀器又有什么樣的優(yōu)勢呢？

       1、直接傳動高精度轉(zhuǎn)矩馬達(dá)與優(yōu)良的光學(xué)編碼器相結(jié)合，確保了儀器的傳動速度和精度；

       2、可以進(jìn)行常規(guī)的晶相識別和定量，可以分析晶體尺寸、晶格應(yīng)變及結(jié)晶度的計(jì)算；

       3、光學(xué)系統(tǒng)可以在 Bragg-Brentano 聚焦和 Johansson 或拋面鏡單色器自由切換；

       4、高分辨的反射技術(shù)，讓檢測厚度至1-500nm，幾何平行光束采用了小反射角和薄膜附件，從而可以進(jìn)行薄膜或?qū)哟畏治觯?

       5、全部組件可以拆分為7個模塊，同時可以在5個獨(dú)立自由度上檢測樣品，適用于粉末、薄膜和塊狀樣品；

       6、可以定量分析殘余奧氏體、多晶物篩查、晶體結(jié)構(gòu)分析、殘余應(yīng)力分析、薄膜分析、深度剖析、相變紋理和優(yōu)先取向、納米粒子分析；

       7、將拋面鏡單色器與晶體開槽技術(shù)有機(jī)結(jié)合，并安裝在入射光束上，可以獲得高強(qiáng)度、低散射適合高分辨率測量的平行單色光；

       8、強(qiáng)大、簡便的操作軟件使得檢測工作更加簡單，軟件同時具有其他進(jìn)階功能，可以幫助用戶對復(fù)雜的譜圖進(jìn)行分析。