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XRD是x射線衍射光譜，（X－ray diffraction analysis)是用于測(cè)定晶體的結(jié)構(gòu)的，而XRF是x射線熒光發(fā)射譜，（X－ray fluorescence analysis)主要用于元素的定性、定量分析的，一般測(cè)定原子序數(shù)小于Na的元素，定量測(cè)定的濃度范圍是常量、微量、痕量。

光譜

X射線是原子內(nèi)層電子在高速運(yùn)動(dòng)電子的轟擊下躍遷而產(chǎn)生的光輻射，主要有連續(xù)X射線和特征X射線兩種。晶體可被用作X光的光柵，這些很大數(shù)目的粒子（原子、離子或分子）所產(chǎn)生的相干散射將會(huì)發(fā)生光的干涉作用，從而使得散射的X射線的強(qiáng)度增強(qiáng)或減弱。由于大量粒子散射波的疊加，互相干涉而產(chǎn)生最大強(qiáng)度的光束稱為X射線的衍射線。

應(yīng)用已知波長(zhǎng)的X射線來(lái)測(cè)量θ角，從而計(jì)算出晶面間距d，這是用于X射線結(jié)構(gòu)分析；另一個(gè)是應(yīng)用已知d的晶體來(lái)測(cè)量θ角，從而計(jì)算出特征X射線的波長(zhǎng)，進(jìn)而可在已有資料查出試樣中所含的元素。

入射X射線與原子的核外電子發(fā)生非彈性碰撞時(shí)，一部分能量轉(zhuǎn)移給電子，使它脫離原子成為反沖電子，而散射光子的能量和運(yùn)動(dòng)方向則發(fā)生變化。

XRD原理是以X射線的相干散射為基礎(chǔ)，以布拉格公式2d sinθ=nλ、晶體理論、倒易點(diǎn)陣厄瓦爾德圖解為主要原理的；XRF原理則是以莫斯萊定律(1/λ)1/2=k(Z-S)，k,S是與線性有關(guān)的常數(shù)。因此，得出不同元素具有不同的X射線（即特征線）為基礎(chǔ)對(duì)元素定性、定量分析的。

總結(jié)，XRF熒光發(fā)射光譜和XRD衍射光譜的是兩種不同的分析方式，分析的領(lǐng)域也不同。