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       首先，光譜儀檢查校正曲線。如果不存在測量錯誤，全部標(biāo)樣的元素點(diǎn)應(yīng)在持久曲線上，則可以排除干擾，如果有干擾存在，某些標(biāo)樣的元素點(diǎn)出現(xiàn)在持久曲線的右面。這是由于干擾強(qiáng)度疊加在原有含量上而引起的強(qiáng)度比的增加。

直讀光譜儀分析中確認(rèn)干擾存在的方法

       其次，從光譜儀波長表查閱所用的波長是否有干擾。在鋼中Nb、Zr、S、Mo和w等元素是很重要的，但在很多低合金鋼中Nb、W、S、Zr含量很低，可不予考慮。而在一些低合金鋼中Mo卻有較高的濃度，尤其在火花放電，其強(qiáng)度(500 讀數(shù))較大。要檢查待測樣品中上述元素的濃度是否很高。例如，以NBS1260系列標(biāo)樣制作曲線，其中1261中Mo為0.19%，1264 中Mo為0.49%，這兩個樣品就可能產(chǎn)生對Al 396. 1nm的干擾。在作Al 3961校正曲線時，1261 和1264的兩點(diǎn)降落在校正曲線的右面，其計算含量將超過真實(shí)值(0. 008%)。1264的結(jié)果可能是0.012%，一旦證明有干擾存在，就需要進(jìn)行校正。

       直讀光譜儀器驗(yàn)證干擾的簡單過程如下:

       (1)點(diǎn)是否落在校正曲線的右面;

       (2)查看波長表，干擾元素的濃度以及強(qiáng)度是否很高;

       (3)被干擾的濃度與真值之間存在一定的偏差。

       除以上幾點(diǎn)，還要注意下述幾個問題:

       (1) 有時在波長表中沒有列出干擾元素;

       (2)因?yàn)橛袝r干擾元素有某些補(bǔ)償，干擾現(xiàn)象可能部分地由校正曲線掩蓋;

       (3)千擾是光源的函數(shù)，對一種光源可能是強(qiáng)干擾，而另一種光源可能不是。

       當(dāng)分析員在使用光電直讀光譜儀時對以上的情況進(jìn)行分析，排除干擾，我們就能得到一個好的檢測結(jié)果，在幾次的分析后也有了經(jīng)驗(yàn)，不要怕困難，多分析多研究。